CEM3000系列超清掃描顯微鏡用于對樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析。其抗振設(shè)計(jì),在充滿機(jī)械振動和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山,拍攝出清晰、高分辨率的圖像。
更新時間:2025-04-09
產(chǎn)品型號:CEM3000
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VT6000系列國產(chǎn)共聚焦3D顯微鏡在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中,一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。它以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。
更新時間:2025-04-09
產(chǎn)品型號:VT6100
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SuperViewW白光干涉測量膜厚儀器3D重建算法自動濾除樣品表面噪點(diǎn),在硬件系統(tǒng)的配合下,測量精度可達(dá)亞納米級別。不通倍率的鏡頭,適應(yīng)于從超光滑到粗糙度各種表面類型的樣品。
更新時間:2025-04-09
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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中圖儀器SEM掃描電鏡用于對樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
更新時間:2025-04-09
產(chǎn)品型號:CEM3000
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CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
更新時間:2025-04-09
產(chǎn)品型號:CEM3000
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NS系列臺階薄膜測厚儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器。采用線性可變差動電容傳感器(LVDC),具有亞埃級分辨率,13μm量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產(chǎn)品能掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。
更新時間:2025-04-09
產(chǎn)品型號:NS200
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