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工業測量的兩大神器：輪廓儀和三坐標測量機
2023-11-02 工業自動測量系統基于機器視覺、激光等技術，可以提高產品精度和生產效率。它基于數字圖像處理技術和人工智能技術，能夠在生產線上自動完成對產品尺寸的檢測和測量，如用于各種形狀、各種材質的產品的測量（機械零件的尺寸測量、汽車零部件質量控制、精密機床檢測）等。除了產品測量外，它還能應用于刀具的形狀和尺寸的檢測、鑄造件表面缺陷的檢測等諸多領域，實現對產品高速、高精度、高效率的檢測與控制。其中輪廓儀和三坐標測量機作為其中最為重要的兩種工業自動測量儀器，在高精度測量領域中扮演著不可替代的角色...
晶圓表面形貌及臺階高度測量方法
2023-11-02 晶圓在加工過程中的形貌及關鍵尺寸對器件的性能有著重要的影響，而形貌和關鍵尺寸測量如表面粗糙度、臺階高度、應力及線寬測量等就成為加工前后步驟。以下總結了從宏觀到微觀的不同表面測量方法：單種測量手段往往都有著自身的局限性，實際是往往是多種測量方法配合使用。此外，除表面形貌和臺階測量外，在晶圓制程中需要進行其他測量如缺陷量測、電性量測和線寬量測。通過多種測量方式的配合，才能保證器件的良率和性能。半導體晶圓表面形貌的測量可以直接反映晶圓的質量和性能。通過對晶圓表面形貌的測量，可以及時...
臺階儀工業測量儀器：揭秘多領域應用
2023-11-02 臺階儀能檢測哪些東西？主要應用在哪些領域？臺階儀是一種常見的工業測量儀器，廣泛應用于大學、研究實驗室和研究所、半導體和化合物半導體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機電、觸摸屏、汽車、醫療設備等行業領域。它能完成對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。工作原理當觸針沿被測表面輕輕滑過時，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時還沿峰谷作上下運動。觸針的運動情況就反映了表面輪廓的情況。CP200臺階儀采用線性可變差動電容傳感器（LVDC），具有...
篩網孔徑測量方法，您了解多少？
2023-11-01 篩網是一種表面有均勻而穩定的透氣孔、具有篩選和過濾作用的工業用品，常見的有金屬絲編織網和沖孔板篩網，廣泛用于新能源汽車、太陽能光伏、冶金、煤炭、橡膠、石油、化工、制藥、建材、糧油等行業。篩網有著嚴格的網孔尺寸規范，需要符合標準認可，篩網的線徑、網孔（尺寸規范）是否符合要求，需要專業的尺寸測量工具來檢測。一、目視測量法目視測量法是篩網孔徑大小測量中常用的方法之一，簡單易行，適用于孔徑較大的篩網。其具體操作流程如下：（1）選取與篩網孔徑大小相同的標準物品，如釘子、銅絲等，稱為量規...
雙頻激光干涉儀其擁有怎樣的功能呢？
2023-10-27 雙頻激光干涉儀是一種常用的實驗室儀器，可以用于測量長度、形狀、表面粗糙度等物理量。它基于干涉原理，利用激光源發出兩個頻率不同的激光束，通過干涉產生干涉條紋來進行測量。在激光干涉儀中，激光源會發出兩個頻率不同的激光束，其中一個激光束為參考光，另一個激光束則被用來測量待測物體的位移或形變。這兩束激光束會經過分束器和反射鏡，最終在檢測器上產生干涉信號。雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣，激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行...
WD4000無圖晶圓檢測機：助力半導體行業高效生產的利器
2023-10-26 晶圓檢測機，又稱為半導體芯片自動化檢測設備，是用于對半導體芯片的質量進行檢驗和測試的專用設備。它可以用于硅片、硅晶圓、LED芯片等半導體材料的表面檢測，通過對晶圓的表面特征進行全面檢測，可以有效降低產品的不良率，提高產品的穩定性和可靠性。一種晶圓表面形貌測量方法-WD4000無圖晶圓幾何量測系統WD4000無圖晶圓檢測機采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3DMapping圖，實現晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、...
臺階儀和輪廓儀在工業制造領域的區別和應用領域解析
2023-10-26 測量和檢測是工業制造領域的重要環節，而臺階儀和輪廓儀則是各有其特點和應用范圍的兩種儀器。臺階儀和輪廓儀區別在哪？一、臺階儀1、產品概述臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器。它是利用光學干涉原理，對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。2、產品特點臺階儀在工業生產中，常用來保證產品的質量和工藝要求的達標。它對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數據復現性高、測量穩定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用非常廣泛的...
以下便是雙頻激光干涉儀的主要結構組成部分
2023-10-25 雙頻激光干涉儀是一種常用的實驗室儀器，可以用于測量長度、形狀、表面粗糙度等物理量。它基于干涉原理，利用激光源發出兩個頻率不同的激光束，通過干涉產生干涉條紋來進行測量。在激光干涉儀中，激光源會發出兩個頻率不同的激光束，其中一個激光束為參考光，另一個激光束則被用來測量待測物體的位移或形變。這兩束激光束會經過分束器和反射鏡，最終在檢測器上產生干涉信號。雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣，激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行...

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